有创性ICP监护

　　脑室内导管监测法侧脑室前角穿刺后，将探头安置在侧脑室前角内，另一端经三通管连接监护仪和脑室引流瓶，此法是临床上最常用的方法，较其他方法准确可靠，被称为ICP监护的“金标准”法，但此法因穿刺较深易损伤脑组织，感染率达6%～11%，高于脑实质内置管法的1.7%～4%，ICP急剧增高时脑室发生变窄或移位，穿刺和置管的难度则相应增大。

　　脑实质内光纤传感器监测法将一条带有传感器的细纤维光缆置入脑实质内进行监护。该方法降低了感染和颅内出血等风险，但准确性低于脑室内导管法，也不能具备引流脑脊液的作用。

　　硬膜外和硬膜下测压法一般于侧脑室前角穿刺部位，切开头皮颅骨钻孔，将带有传感器的探头置入颅骨内板与硬脑膜之间或硬脑膜与软脑膜之间，这两种方法探头安置方便，感染风险下降，损伤较轻，但易引起硬膜反应性增厚，因此降低了敏感性，且准确性相对较差。

　　无创性ICP监护由于创伤性ICP监护法安置探头需开颅，操作复杂，损伤大，且易感染，从上世纪八十年代起，无创性测压理论逐渐进入科学家们的视野，现已成为研究的一大热点和难点。报道较多的无创性监测法如下。

　　经颅多普勒法搏动指数(gosling pulsatility index，PI)=(收缩峰血流速度-舒张期末血流速度)/平均速度，ICP增高时脑底大动脉舒张期血流速度减少，收缩峰变尖，PI增加。基于ICP与PI这种相关性，经颅多普勒通过监测脑底大动脉血流速度来间接反映ICP变化。但由于脑血管活性易受其他多种因素影响，且不同个体差异较大，PI与ICP之间的相关性缺乏特异性，故TCD法还不能成为可靠、有效的ICP监测手段。

　　经前囟测压法(AFP)AFP法仅适用于突出于骨缘的前囟，但下压外突的前囟可增高ICP，对患儿造成不利。

　　闪光视觉诱发电位法(f-vep)1984年YorkD发现视觉诱发电位的第二负向波(N2波)的延迟时间与颅内压具有直接线性相关关系，通过测量N2波的延迟时间，求得颅内压值，2001年Desch证实了此规律，国内也有文献支持f-vep监护法的敏感性和准确性。但此方法也具有局限性:易受脑代谢因素如PaCO2、PO2、pH及BP等影响；严重视力障碍、眼底出血等眼部疾病，或颅内占位压迫、破坏视通路时，均对f-vep存在影响；部分深昏迷或脑死亡患者f-vep消失。