1. 感染

脑膜炎和脑室炎：EVD相关感染是常见且严重的并发症，感染率在0%到27%之间。感染可能进展为脑室炎或脑炎，导致严重的神经系统并发症。

风险因素：包括全身感染、颅骨骨折、EVD导管未进行隧道化、穿刺部位渗漏、导管冲洗、脑脊液采样频率以及EVD留置时间。

预防措施：使用抗生素浸泡或银离子涂层的EVD导管，可提供与预防性静脉抗生素相似的保护效果。此外，严格遵守无菌操作技术、减少脑脊液采样频率、保持引流系统直立、不常规更换引流管等措施也有助于降低感染风险。

2. 出血

穿刺道出血：EVD穿刺过程中可能导致穿刺道出血，发生率可达12%。使用口服抗凝剂或抗血小板药物的患者出血风险更高。

预防措施：在手术前评估患者的凝血功能，必要时暂停抗凝治疗。在穿刺过程中，尽量减少对脑组织的损伤，使用合适的穿刺技术和设备。

3. 导管阻塞

原因：导管阻塞通常是由于细胞碎片（如血凝块和/或组织碎片）堵塞。此外，引流管打折、引流系统故障（如湿过滤器）、引流管移位、过度引流或脑室塌陷以及脑脊液漏等也可能导致阻塞。

预防措施：定期检查引流系统，确保引流管通畅。如果怀疑导管堵塞，可尝试短暂降低引流系统高度以恢复脑脊液流动。在必要时，使用少量（小于2 ml）无菌等渗生理盐水冲洗导管，但需注意避免增加颅内压。

4. 导管移位

原因：导管移位可能由于患者头部活动或引流管固定不牢固导致。

预防措施：在穿刺后，确保引流管牢固固定在患者头部，避免因头部活动导致导管移位。

5. 颅内压监测不准确

原因：引流系统故障、导管堵塞或颅内压监测设备校准不当可能导致颅内压监测数据不准确。

预防措施：定期校准颅内压监测设备，确保引流系统通畅，并密切观察颅内压波形变化。

6. 其他风险

脑脊液漏：穿刺部位或引流系统连接处可能出现脑脊液漏，增加感染风险。

预防措施：在穿刺和引流过程中，严格遵守无菌操作技术，确保引流系统密封良好。